探針冷熱臺是一種用于材料分析、半導體測試、生物實驗等領(lǐng)域的精密設(shè)備，能夠提供精確的溫度控制環(huán)境，支持樣品在高溫或低溫下的測試。
1.溫度控制范圍廣
冷熱臺通常支持從極低溫度到高溫的寬范圍溫度控制。
低溫可通過液氮或制冷機實現(xiàn)，高溫通過電熱絲或加熱板實現(xiàn)。
2.高精度控溫
配備先進的溫控系統(tǒng)（如PID控制器），溫度穩(wěn)定性可達±0.1℃~±0.5℃。
部分型號支持程序控溫，可設(shè)置多段升溫/降溫曲線。
3.模塊化設(shè)計
冷熱臺通常由加熱/制冷模塊、樣品臺、探針系統(tǒng)、溫度傳感器和控制系統(tǒng)組成。
可根據(jù)需求選配不同功能模塊（如顯微鏡、力加載裝置等）。
4.兼容性強
支持多種探針或測試設(shè)備（如電學探針、光學探頭、力學探針等）的接入。
可與顯微鏡、光譜儀、電流電壓測試儀等設(shè)備聯(lián)用。
5.樣品臺特性
樣品臺通常采用高導熱材料（如銅、鋁）制成，確保溫度均勻性。
部分型號支持樣品臺旋轉(zhuǎn)或傾斜，方便多角度測試。
6.防護與安全性
配備隔熱罩或真空腔體，減少外界環(huán)境對溫度的影響。
具備過溫保護、漏電保護等功能，確保操作安全。
二、探針冷熱臺核心配置:
1.溫度控制模塊
制冷方式：液氮冷卻、斯特林制冷機或半導體制冷（根據(jù)溫度范圍選擇）。
加熱方式：電熱絲、加熱板或紅外加熱。
溫度傳感器：鉑電阻、熱電偶或紅外測溫儀。
2.探針系統(tǒng)
電學探針：用于測試材料的電學性能（如電阻、電流-電壓曲線）。
光學探針：用于顯微觀察或光譜分析（如拉曼光譜、熒光光譜）。
力學探針：用于納米壓痕、劃痕測試等力學性能分析。
3.顯微鏡系統(tǒng)
可選配光學顯微鏡或電子顯微鏡，用于觀察樣品表面形貌。
部分型號支持顯微成像與探針測試同步進行。
4.程序控溫軟件
支持多段升溫/降溫程序設(shè)置，可模擬復雜環(huán)境條件。
實時顯示溫度曲線、測試數(shù)據(jù)，并支持數(shù)據(jù)導出。
5.樣品固定裝置
提供多種樣品固定方式（如磁吸、夾持、粘貼等），適應不同樣品形態(tài)。
部分型號支持原位測試（如拉伸、壓縮、加熱過程中實時測試）。
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